日本理学ZSX Primus IV 波长色散X射线荧光光谱仪

理学波长色散型X射线荧光光谱仪—ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV采用上照射设计，再不用担心粉末样品污染光路，损害光管的风险，操作安全放心。 集合所有ZSX系列的优点：双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。 ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。ZSX Primus IV完全具备迎接21世纪实验室挑战。

新的ZSX Guaidance专家系统XRF软件

ZSX Guaidance专业操作软件为XRF测量和数据分析的各个方面提供支持。准确的分析只能由专家进行吗？不 - 那是过去。ZSX Guidance软件具有内置的XRF专业知识和熟练的专家知识，可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品，分析组分和标准组成的基本信息。具有最小重叠，最佳背景和校正参数（包括线重叠）的测量线可以借助仪器自动设置。

卓越的轻元素XRF表现，具有可靠性的优越

ZSX Primus IV具有创新的光学上照式光路结构。使得再也不用担心被光路被污染，减少后期维护。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米铍窗膜的光管，这是业界最薄的终端窗口管，可提供出色的轻元素检测限。

映射和多点XRF分析

结合最先进的成像软件包相结合，可检测均匀性和夹杂物，ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究，以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

SQX基本参数与EZ-Scan软件

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下对未知样品进行XRF元素分析。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件，它可以提供最准确，最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应，包括谱线重叠。SQX还可以校正光电子，不同气氛，杂质和不同样品量的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

• 从Be到U的元素分析
  

  
  

• ZSX Guidance专家系统软件
  

  
  

• 数字多通道分析仪（D-MCA）
  

  
  

• EZ分析界面进行常规测量
  

  
  

• 上照式光学系统，使污染问题最小化
  

  
  

• 占地面积小，占用的实验室空间更少
  

  
  

• 微量分析可分析小至500μm的样品
  

  
  

• 30μm管提供卓越的轻元素性能
  

  
  

• 映射功能的元素地形/分布