华普科普栏目丨正确使用X射线荧光光谱仪中的滤光片

X荧光光谱仪中的滤光片由几片金属片组成。一般安装在X光管和试样之间，主要是利用滤光片的吸收特性来减少X光管辐射的靶物质特征X射线、杂质线和背景信号。

滤光片的材质常见的有Cu、Ni、Al、Zr等，不同的元素可根据实际选择是否使用滤光片，或者使用不同材质和厚度的滤光片。使用滤光片会降低X荧光的强度，一般在无明显谱线干扰的情况下，优先选择不加滤光片。

以常见带Rh靶的X光管为例，在对样品测试时，不使用滤光片条件下，样品中CdKα与靶材的RhKβ2线重叠，即样品中Cd的测试受到靶材中Rh元素的干扰，易导致实际结果出现误差；

当使用0.3mm黄铜滤光片后，可以明显观察到Rh靶的特征谱线被消除，样品中CdKα能被分辨出来，可正常检测。

如图中所示，滤光片会降低背景噪音，同时也会降低谱峰的强度，但是峰背比得到较大的提升。