波长色散型X射线荧光光谱仪分析硫化铜钼矿的应用方案-华普通用

硫化铜钼矿作为常见的硫化铜矿之一，有用成分除铜物外，还含有辉钼矿。硫化铜矿及其精矿质量高低直接影响铜产品的技术经济指标，因此针对其选矿流程样品中铜、钼、铁、硫、硅、钙等主成分的分析往往需要若干传统方法的组合，其操作流程繁琐冗长。

利用X射线荧光光谱(XRF)法线性范围宽、精密度高、分析速度快的特点则可有效解决这一难题。

本文介绍使用波长色散X射线荧光光谱仪 ZSX Primus III+分析硫化铜钼矿的主要成分。

仪器：

波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus III+

试剂：

四硼酸锂与偏硼酸锂混合熔剂

脱模剂（LiBr）分析纯

氧化剂（LiNO₃）分析纯

取0.4g样品，1.0g混合熔剂，2.0g氧化剂混合均匀后，再均匀覆盖5.0g混合熔剂，在熔样机中以650℃预氧化后升温至1050℃熔融，加入适量脱模剂后制成玻璃样片，于荧光光谱仪上进行测定。

将铜矿石、钼矿石国家标准物质精矿样品与原矿样品以不同比例混合，以配制具有一定含量梯度的校准样品序列，各成分含量范围如下：

标准样品及人工配置校准样品中

各成分含量范围

根据公式：

S为灵敏度（kcps/%），r_b为背景计数率（kcps），t_b为背景测定时间（s），可得方法检出限。

按上述实验步骤熔融GBWO7144和 GBW07266等比例混合的样品并进行测定( n=10)，统计测量结果，计算各成分的相对标准偏差如下：

采用波长色散X射线荧光光谱仪ZSX PrimusIII+，建立了涵盖硫化铜钼矿石选矿流程样品中主成分分布的熔融制样——XRF分析方法。

Cu、Mo、Fe、S、SiO₂ 精密度小于1.0 %，检出限满足日常分析要求。