物理材料实验室设备-华普通用

功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用

专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A
Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪-华普通用

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压
TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用

TSI的一维、二维或三维（1D,2D或3D）激光多普勒测速（LDV）系统，包含新型的PowerSight固态激光器，绝对让您耳目一新。该款全新增强型系统整合了PowerSight模块，该模组由最新型固态激光器
Chroma Model3650 SoC测试系统-华普通用

Chroma 3650可在一个测试头中，提供最多512 个数位通道，并具备高产能的平行测试功能，最高可同时测试32 个待测晶片，以提升量产效能。
BUCHI Pure 制备色谱系统-华普通用

Pure色谱仪非常的紧凑，确保最高水平的安全性并且易于应用在Flash快速分离和HPLC样品制备中。
档案扫描美化系统-华普通用

本系统为图像处理系统，可将文档上的黑色装订孔以及黑边等自动处理
福禄克Raytek® Compact MI3 红外测温探头/高温计-华普通用

雷泰MI3红外温度传感器代表在连续非接触式温度监测的新一代的性能和创新，并广泛应用于OEM应用和制造工艺中。
BTPM-MWS1低浓度恒温恒湿半自动称重系统-华普通用

BTPM-MWS1是丹东百特仪器有限公司研制的一种半自动称重系统，用于颗粒物采样滤膜、滤嘴的实验室恒温恒湿平衡及手动称重。
日本Otsuka界达电位ELSZ-2000

此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位粒径及分子量。粒径测量范围（0 6nm～10μm），浓度范围（0 00001%～40%）。实测电气渗透流
日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES

使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。测量时间
日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列

光谱仪（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700）提供丰富选配套件以及客制化光纤，可依据安装现场需求评估设计，是一套可灵活架设于各种环境下的最佳即时测量系统
美国Buehler AutoMet 250 研磨抛光机

AutoMet系列研磨抛光机专为严苛的生产实验室环境而设计。 AutoMet 250适用于手动或自动样品制备，其简单灵活的操作，让用户可以轻松地应对多种应用需求