半导体参数分析仪-华普通用

功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用

专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A
Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪-华普通用

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压
TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用

TSI的一维、二维或三维（1D,2D或3D）激光多普勒测速（LDV）系统，包含新型的PowerSight固态激光器，绝对让您耳目一新。该款全新增强型系统整合了PowerSight模块，该模组由最新型固态激光器
日本Otsuka界达电位ELSZ-2000

此设备可测量浓度低的溶液～浓度高的溶液的ZETA电位粒径及分子量。粒径测量范围（0 6nm～10μm），浓度范围（0 00001%～40%）。实测电气渗透流
日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100

瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率）。适用于粉体、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的迷光。