13145925686
MENU
首页
产品中心
自动化及应用
RoHS检测
贵金属检测
珠宝检测
化学前处理
油品检测
分析检测仪器
能量色散X射线荧光光谱仪
火花直读光谱仪
电感耦合等离子体发射光谱仪
扫描电子显微镜
纳米粒度仪
相位差测量系统
材料膜厚仪
辉光放电发射光谱仪
波长色散X射线荧光光谱仪
流变仪
差式热量扫描仪
热重分析仪
冰点,倾点,凝点,浊点
物理材料实验室配套设备
ROHS2.0解决方案
标准样品
绝缘电阻测试系统
关于我们
公司简介
公司荣誉
人才理念
企业文化
新闻资讯
公司新闻
行业动态
联系我们
联系方式
留言反馈
职位空缺
0755-86677030
分析检测仪器
自动化及应用
能量色散X射线荧光光谱仪
火花直读光谱仪
电感耦合等离子体发射光谱仪
扫描电子显微镜
纳米粒度仪
相位差测量系统
材料膜厚仪
辉光放电发射光谱仪
波长色散X射线荧光光谱仪
流变仪
差式热量扫描仪
热重分析仪
冰点,倾点,凝点,浊点
物理材料实验室配套设备
ROHS2.0解决方案
标准样品
绝缘电阻测试系统
日本Otsuka界达电位ELSZ-2000
此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位粒径及分子量。粒径测量范围(0 6nm~10μm),浓度范围(0 00001%~40%)。实测电气渗透流
日本Otsuka量子效率测量系统QE-2000/2100
瞬间测量绝对量子效率(绝对量子收率)。适用于粉体、溶液、固体(膜)、薄膜样品的测量。通过低迷光多通道分光检出器,大大减少了紫外区域的迷光。
在线
客服
深圳
上海
北京