SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散X射线荧光光谱仪

型号:XEPOS
SPECTRO XEPOS—集大成者偏振型能量色散X射线荧光光谱仪,Na~U全元素分析,高性能电制冷SDD检测器,搭配SPECTRO 的 TurboQuant II 专业应用软件,重新定义ED-XRF分析。

产品描述

全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪

 — 开创XRF分析新纪元

SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术(ED-XRF)领域独树一帜。 具备多元素和多浓度(主量、微量和痕量)的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。


1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术,区别于其他X射线荧光仪, 仪器的背景最低,信噪比最佳, 检出限最低。

 

2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路,在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管,激发方式得到优化,以达到理想的分析效果。

3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主,次量元素,卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品,在稍稍牺牲精度的条件下,可大大缩短分析时间。

4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器, 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低,背景升高,信噪比变差的情况。

5. 涂镀层分析能力,具备了涂镀层的厚度(低至1纳米)及 成分分析功能,包括贵金属镀层分析,最 多8层55元素。

6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比,TURBOQUANT  更为接近(符合)实际,在此程序中采用了数十种国际标准样品,实测结果并予以固化。

 

7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件,操作极为方便。采用人机功效学原理,谱图汇编,自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。

8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。

SPECTRO XEPOS令人印象深刻,在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理,包括
地质和采矿环境和危废检测以及科研和高校。 


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