德国蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma 系列产品-华普通用

型号:Sigma 系列
德国蔡司Sigma 系列产品用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

产品描述

蔡司Sigma 系列场发射扫描电子显微镜

蔡司Sigma 系列场发射扫描电子显微镜

用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有一流的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。

 

纤维,在伤口护理中敷的抗菌药

▲用于清晰成像的灵活探测

 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma,表征所有样品。

 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

 利用新一代的二次探测器,获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器,在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

 



Sigma 的 4 步工作流程节省大量的时间

自动化加速工作流程

  4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中,从快速成像和节省培训首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。

  首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。

  接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步,将结果可视化。


 

使用顶级的 EDS 几何探测器加速 X 射线分析

高级分析型显微镜

  将扫描电子显微镜与基本分析相结合:Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能,特别是对电子束敏感的样品。

  在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

  获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角,获取完整且无阴影的分析结果。


 配件

smart-edx_system

 SmartEDX

   为您带来一体化能谱分析解决方案

  单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品,研究人员就需要在SEM中采用能谱仪(EDS)来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案,您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于:

  优化了常规的显微分析应用,并且由于氮化硅窗口优秀的透过率,可以探测轻元素的低能X射线。

 工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性,以及多用户环境中的重复性。    完整的服务和系统支持,由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。


 

 拉曼成像与扫描电镜联用系统

完全集成化的拉曼成像

 在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果,获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300,使其具备共聚焦拉曼成像功能,您能够获得样品中独一无二的化学指纹信息,从而指认其成分。

 识别分子和晶体结构信息

 可进行3D分析,在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据。

 完全集成RISE让您体验由先进的SEM和拉曼系统带来的优势。


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